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Workshop abordará temas essenciais para quem deseja publicar com mais eficiência e alcance

A UNICAMP sediará, no dia 19 de maio, das 9h30 às 11h, um workshop presencial com o tema “Como publicar através do Acordo Transformativo de Acesso Aberto entre CAPES e IEEE”. O evento faz parte do IEEE Authorship Roadshow e tem como objetivo apresentar aos autores brasileiros as oportunidades para aumentar a visibilidade e o impacto de suas pesquisas, por meio da publicação em periódicos de acesso aberto do IEEE.

A iniciativa é voltada a docentes, pesquisadores e estudantes interessados em conhecer as possibilidades oferecidas pelo acordo transformativo entre a CAPES e o IEEE, que permite a isenção de taxas de processamento de artigos (APCs) por meio do convênio institucional.

A programação abordará os seguintes temas:

  • Como aumentar a visibilidade e o impacto da sua pesquisa
  • Dicas e melhores práticas para melhorar suas chances de ser publicado
  • O que editores e revisores procuram em submissões
  • Razões comuns pelas quais artigos são rejeitados
  • Selecionando a publicação certa para sua submissão de pesquisa
  • Sinais de alerta a serem observados para evitar periódicos predatórios
  • Razões para considerar periódicos de acesso aberto para suas submissões
  • Opções de acesso aberto disponíveis no IEEE para autores e instituições
  • Estratégias de pesquisa usando a IEEE Xplore Digital Library
  • Ferramentas de autoria disponíveis no IEEE para promover a ciência aberta
  • Como publicar usando o acordo de acesso aberto da sua instituição para pagar por APCs
  • Perguntas e respostas ao vivo: especialistas respondem às suas perguntas ao vivo

O evento contará com a apresentação de Eszter Lukács, gerente de serviços ao cliente do IEEE. Ao final, será aberto um espaço para perguntas e respostas ao vivo.

SERVIÇO:

Data: 19 de maio de 2025
Horário: das 9h30 às 11h
Local: Sala da Congregação (LE 48), Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação (FEEC/UNICAMP)
Inscrições: https://registerieeexplore.wufoo.com/forms/x708kom1rc9f7x/
Certificado: Emitido pelo IEEE após o término dos eventos

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